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      顯微熔點(diǎn)儀X-4

      顯微熔點(diǎn)儀X-4

      簡(jiǎn)要描述：熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃ 測量重復性：±1℃(在<200℃時(shí)) ±2℃(在200～300℃時(shí))

      產(chǎn)品型號： X-4

      所屬分類(lèi)：熔點(diǎn)儀

      更新時(shí)間：2024-08-19

      廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家

      詳情介紹

      測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機化合物之測定，顯微鏡觀(guān)察。既可用毛細管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。    
       
      X-4顯微熔點(diǎn)儀產(chǎn)品介紹  
        
       熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃ 

      測量重復性：±1℃（在<200℃時(shí)） 
                ±2℃（在200～300℃時(shí)） 

      光學(xué)放大倍數：目鏡10X；物境4X  
       



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